當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 晶圓厚度測量 >
產(chǎn)品分類
Product Category
FSM413紅外激光測厚儀主要產(chǎn)品包括:光學(xué)測量設(shè)備:三維輪廓儀、拉曼光譜、 薄膜應(yīng)力測量設(shè)備、 紅外干涉厚度測量設(shè)備、電學(xué)測量設(shè)備:高溫四探針測量設(shè)備、非接觸式片電阻及漏電流測量設(shè)備、金屬污染分析、等效氧化層厚度分析（EOT）
更新時(shí)間：2024-11-09
型號：
廠商性質(zhì)：代理商
瀏覽量：5475
FR-Ultra 是一款專用于精確測量半導(dǎo)體以及介電材料超厚層的專用設(shè)備。 藉由先進(jìn)的光學(xué)器件，F(xiàn)R-Ultra 可以測量光滑或粗糙的薄膜以及較厚的基材。
更新時(shí)間：2024-11-09型號：廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：1566